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内存ATE测试介绍.ppt

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测试目的:评估DUT的漏电流大小评估供给DUT工作时所需的电源电流大小,DC参数测试,28,工程测试,AC参数测试,AC参数测试基本原理:改变需要测试的参数,重复执行功能测试,直到测试结果由PASS转为FAIL为止。记录PASS/FAIL转换点,进行必要的数学运算,得出需要测试的参数实际数值。实质是以时间条件为基础来执行功能测试。,29,AC参数测试,AC参数测试目的:保证器件的时序参数满足器件SPEC的要求保证器件在不同的时序条件限制下可正常工作分析器件时序参数解决故障问题Debug/优化测试程序的工具,工程测试,30,典型AC参数的时序图(CL/tRCD/tRP),AC参数测试,31,Shmoo图例MarginTest(潜力测试)用于评价芯片实际能力。

通常使用SHMOOPLOT工具进行分析,AC参数测试,32,Shmoo图例,二维Shmoo同时改变两个相互关联的参数,执行功能测试红色FAIL区域绿色PASS区域,AC参数测试,33,ATE测试,生产测试(massproduction),工程/评估测试(engineering/evaluation),ATE测试简介,34,生产测试流程,基本电性能测试,重要AC参数测试,功能测试,连接性测试、漏电流测试、IDD测试,时序宽松、时序严格、基本功能、重要的POPULARPATTERN,选用engineering的测试方法对重要参数进行测试,ATE测试简介,35,工程测试,工程测试(engineering)。

DC参数测试,AC参数测试,功能测试,工程测试,36,谢谢!,37,

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